برگزاری دهمین کنفرانس تخصصی پایش وضعیت و عیب‌ یابی

 | آخرین بروزرسانی: 1394/9/18 | 

AWT IMAGE

دهمین کنفرانس تخصصی پایش وضعیت و عیب‏‌یابی مورخ 4 و 5 اسفند ماه 94 در دانشگاه صنعتی شریف برگزار می‏‌گردد. علاقمندان جهت کسب اطلاعات بیشتر می‏توانند به آدرس http://mech.sharif.edu/~cmfd/ مراجعه نمایند.

محورهای کنفرانس:

  • پایش وضعیت Condition Monitoring، ماشین آلات، تجهیزات و سازه ها
  • مزایای اقتصادی پایش وضعیت
  • تاثیر اجرای Condition Monitoring در صرفه جوئی انرژی
  • تکنیکهای عیب‌یابی، بازرسی و تستهای غیر مخرب
  • روش آنالیز ارتعاشات، روغن، ترموگرافی، Acoustic Emission و جریان الکتریکی و تشخیص خوردگی
  • نگهداری پیش بینانه Predictive Maintenance
  • تأثیر فرآیندهای طراحی، ساخت، نصب و راه اندازی در هزینه های نگهداری و تعمیرات مبتنی بر CM
  • تاثیر Condition Monitoring در اجرای نگهداری مبتنی بر قابلیت اطمینان RCM
  • کاربرد نانو تکنولوژی در پایش وضعیت
  • مباحث آموزشی CM

دفعات مشاهده: 6963 بار   |   دفعات چاپ: 1225 بار   |   دفعات ارسال به دیگران: 0 بار   |   0 نظر